Ｑ２ ＩＯN直讀火花光譜儀 

1．Q2采用了技術—平面視場CCD光學系統，在光柵的色散作用下,所有的分析譜線均聚焦于平面CCD檢測器上，使得檢測器的每個像素點都得以充分的利用，從而獲取***清晰的分析譜圖，同時，源自Bruker AXS技術平臺的譜圖解析技術采用特殊的計算方法，能夠有效去除譜圖中的背景及干擾信號，從而獲得的分辨率，該技術使得Q2顛覆了傳統的Paschen-Runge 結構設計，確保儀器在保持緊湊的體積同時具有強大的分析性能。 

2．Q2 采用了一代的CCD檢測器，目前市場上同類產品所采用的CCD檢測器在分析紫外元素時，均需鍍膜，而鍍膜具有一定壽命， 在一段時間以后將直接影響儀器的分析性能，而Q2采用的為非鍍膜CCD，從而不受鍍膜壽命的影響。 

3．Q2光學系統采用了動態溫度補償技術（AAC），該技術采用特殊的材料和結構設計，使得儀器可以有效補償因溫度變化而造成的光室熱脹冷縮現象，從而保持焦距的恒定。確保儀器即便在10°C至45°C之間的外界溫度變化下也具有優異的穩定性。 

實驗室和現場分析用發射光譜儀 Ｑ２ＩＯＮ 

  Bruker新一代的火花直讀光譜儀Q2 ION將金屬材料的分析便捷性和簡易性帶入了一個新的領域。Q2 ION是現今市場上***為輕巧的高性能直讀光譜儀, Q2功能強大,可同時配備多種基體,是來料檢驗和成品分析的選擇.同時儀器相對低廉的價格定位及低的維護成本,使其在中小企業中備受青睞. 

  Q2 ION在大多數基體如鐵鋁銅的應用中覆蓋了所有重要的合金元素。對于某些中小鑄造企業，金屬加工廠，質量管理部門，原料倉庫，金屬回收企業，甚至檢測機構，Q2無疑是選擇。 

  Q2 ION的獨特設計使其重量只有不到20kg，可輕易攜帶到附近的場地進行檢測。另外，用戶還可選配專門的行李箱以方便儀器的攜帶。盡管重量輕，Q2在構造上堅固耐用，可適應各種復雜場所的檢測要求。整個分析過程輕松便捷，只需將樣品放置于火花臺上激發，30秒內即可獲取所有元素的含量信息。 

     Q2 ION所采用的平面CCD光學系統，無疑是光學結構設計和機械加工技術的大師級杰作，Q2還采用了動態溫度補償系統，從而確保在10至45度的外界溫度下也具有的穩定性。高清晰度CCD檢測器以及[譜圖解析技術使得儀器的分析性能更上一個臺階。 

儀器參數： 

非渡膜CCD檢測器，具有***低的暗電流 

平面光柵 

波長覆蓋范圍：170-685nm 

分辨率：30pm 

氬氣驅氣以確保光通量。 

譜圖解析技術 

動態溫度補償系統，確保在10至45度的外界溫度下具有的穩定性 

分析方法組件： 

可應用于各種不同基體 

覆蓋所有主要元素及合金類型 

可適應未來升級需要 

激發源 

免維護，兩相ＰＷＭ激發源 

頻率５０－１０００Ｈｚ 

火花臺 

免維護 

檢測期間氬氣消耗２．５ｌ／ｍｉｎ 

軟件 

基于Ｗｉｎｄｏｗｓ的操作軟件 

分級用戶權限 

定性及定量分析 

操作軟件含分析數據庫及辦公軟件接口 

牌號庫功能 

電源 

１００－２４０Ｖ（５０／６０Ｈｚ） 

檢測期間２００Ｗ，待機時５０Ｗ 

１６Ａ慢融保險絲或２５Ａ慢融保險絲 

尺寸 

長Ｘ寬ｘ高：４４０ｍｍＸ３９０ｍｍＸ２２０ｍｍ 

重量：１９ｋｇ．